| タイトル | Cross-correlated charge noise characterization in a series silicon double quantum dot based on transport currents |
| 発表者 | 東京大学 米田淳 |
| 連名者 | （東京科学大学）松岡竜太郎、 松田達也、小寺哲夫 |
| 日時 | 2025年7月29日（火）～30（水） |
| 会場 | 大阪市 |
| タイトル | Cross-correlated charge noise characterization in a series silicon double quantum dot based on transport currents |
| 発表者 | 東京大学 米田淳 |
| 連名者 | （東京科学大学）松岡竜太郎、 松田達也、小寺哲夫 |
| 日時 | 2025年7月29日（火）～30（水） |
| 会場 | 大阪市 |