| タイトル | Log-likelihood ratio test for improving accuracy in silicon spin qubit readout |
| 発表者 | 東京科学大学 溝口来成 |
| 連名者 | （東京科学大学）和田陸久、松岡竜太郎、太田俊輔、（日立製作所）柳至、峰利之、土屋龍太、久本大、水野弘之、（東京科学大学）小寺哲夫 |
| 日時 | 2025年12月16日（火） |
| 会場 | 大阪府 |
| タイトル | Log-likelihood ratio test for improving accuracy in silicon spin qubit readout |
| 発表者 | 東京科学大学 溝口来成 |
| 連名者 | （東京科学大学）和田陸久、松岡竜太郎、太田俊輔、（日立製作所）柳至、峰利之、土屋龍太、久本大、水野弘之、（東京科学大学）小寺哲夫 |
| 日時 | 2025年12月16日（火） |
| 会場 | 大阪府 |